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電子元器件網(wǎng)版印刷的耐腐蝕性如何測(cè)試?
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  • 電子元器件網(wǎng)版印刷的耐腐蝕性測(cè)試通常通過(guò)鹽霧試驗(yàn)法來(lái)進(jìn)行。以下是該測(cè)試的簡(jiǎn)要步驟和要點(diǎn):1.**準(zhǔn)備階段**:制備5%濃度的氯化鈉(NaCl)溶液,并確保其pH值在6.5至7.2之間以模擬中性環(huán)境。將溶液加熱到35℃,并保持在這個(gè)溫度下進(jìn)行后續(xù)試驗(yàn)以確保條件的一致性。同時(shí)準(zhǔn)備好鹽水噴霧裝置或?qū)iT的鹽霧箱來(lái)進(jìn)行連續(xù)噴灑操作。2.**設(shè)置參數(shù)**:根據(jù)產(chǎn)品要求設(shè)定適當(dāng)?shù)膰姙r(shí)間和頻率。一般而言,中性鹽霧腐蝕試驗(yàn)中常見(jiàn)的持續(xù)時(shí)間為96小時(shí)或以上;然而對(duì)于特定元器件的測(cè)試時(shí)間可能有所不同,從幾小時(shí)直至數(shù)天不等。此外還要確保沉降率符合要求的標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。3.**執(zhí)行測(cè)試**:將待測(cè)的電子元器件放置在準(zhǔn)備好的鹽霧中暴露于連續(xù)的鹽分環(huán)境中進(jìn)行腐蝕評(píng)估。注意監(jiān)控并記錄環(huán)境條件如溫度和濕度等關(guān)鍵指標(biāo)的變化情況以保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性及可重復(fù)性分析的需求。若需長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)測(cè)可采用循環(huán)模式即在不同時(shí)間段內(nèi)進(jìn)行周期性開(kāi)啟與關(guān)閉控制以保持恒定的環(huán)境因素變化狀態(tài)供后期數(shù)據(jù)分析使用參考依據(jù)之一。4.**結(jié)果判斷與分析**:試驗(yàn)結(jié)束后觀察并分析電子元件表面是否出現(xiàn)銹蝕、氧化或其他形式的劣化現(xiàn)象并記錄下這些觀測(cè)到的數(shù)據(jù)用于產(chǎn)品的耐腐蝕性能評(píng)價(jià)以及后續(xù)的改進(jìn)工作之中去指導(dǎo)生產(chǎn)實(shí)踐活動(dòng)的順利進(jìn)行與發(fā)展方向確定的重要依據(jù)來(lái)源之一。

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