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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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測厚儀
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快?？赏瑫r分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。
英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。
膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料
可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等
多涂鍍層應用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn，微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus， Ni/Cu/Fe等
合金鍍層應用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應用：如NiP/Fe， 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度
溫馨提示：以上是關(guān)于英飛思科學儀器公司-宿遷微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plu的詳細介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品！
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第4年
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