電壓暫降與短時(shí)中斷抗擾度(電源試驗(yàn))
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
IEC 60571 鐵路應(yīng)用--機(jī)車車輛用電子設(shè)備 3.1 條款
試驗(yàn)?zāi)康?/p>
評(píng)估設(shè)備的供電電源端口在外部供電電源發(fā)生波動(dòng)時(shí)的性能
電源電壓變化
0.6Un~1.4Un之間,不超過0.1s的電壓波動(dòng)(如輔機(jī)啟動(dòng)或充電機(jī)電壓振蕩時(shí)),電子裝置不應(yīng)引起功能的差異。
1.25Un~1.4Un之間,電磁兼容項(xiàng)目,不超過0.1s的電壓波動(dòng),不應(yīng)引起損壞。電子裝置在波動(dòng)期間可以不具有全部功能。
電源間斷
輸入電壓中斷10ms以下時(shí),定義如下:
——S1級(jí):無間斷
——S2級(jí):10ms間斷
這時(shí)不應(yīng)引起裝置的任何故障。規(guī)定的時(shí)間是針對(duì)標(biāo)稱電壓而言,級(jí)別選擇應(yīng)由系統(tǒng)
設(shè)計(jì)者決定。
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾性試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
IEC61000 - 4 - 3
EN61000-4-3
GB/T17626.3
試驗(yàn)?zāi)康?/p>
評(píng)定電子通訊設(shè)備或系統(tǒng)受到電磁輻射騷擾時(shí)的性能。
試驗(yàn)設(shè)備
全電波暗室
功率放大器
射頻信號(hào)發(fā)生器
抗擾度天線
場(chǎng)強(qiáng)探頭
配套計(jì)算機(jī)及軟件
試驗(yàn)等級(jí)(嚴(yán)酷度等級(jí))
干擾電場(chǎng)強(qiáng)度的波形 (1kHz正弦波80%調(diào)幅 )
均勻域校準(zhǔn)試驗(yàn)的實(shí)施
用1kHz的正弦波對(duì)信號(hào)進(jìn)行80%的幅度調(diào)制后, 在80~1000MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃頻測(cè)量,電磁兼容測(cè)試設(shè)備,掃描步長(zhǎng)為前一頻率的1 %,這一部分都通過計(jì)算機(jī)及軟件控制實(shí)現(xiàn);
每一頻點(diǎn)上掃描停留時(shí)間不應(yīng)短于受試設(shè)備操作和反應(yīng)所需的時(shí)間,一般設(shè)為1-3秒鐘,如果對(duì)產(chǎn)品有特別要求,可以延長(zhǎng)停留時(shí)間;
受試設(shè)備應(yīng)在發(fā)射天線的水平和垂直極化下進(jìn)行試驗(yàn) 。
試驗(yàn)結(jié)果判定
對(duì)于情形a,判為合格。
對(duì)于情 形b、c、d,判為不合格。
靜電放電抗擾度試驗(yàn)
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
IEC 61000 - 4 - 2
EN 61000 - 4 - 2
GB/T 17626.2
試驗(yàn)?zāi)康?/p>
模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)放電及人或物體對(duì)鄰近物體的放電,以考察被試設(shè)備抵抗靜電放電干擾能力。前者是通過導(dǎo)體直接耦合,屬于直接放電影響。 后者是通過空間輻射耦合,電磁兼容原理,屬于間接放電影響。
試驗(yàn)設(shè)備
靜電脈沖發(fā)生器
試驗(yàn)等級(jí)(嚴(yán)酷度等級(jí))
試驗(yàn)原理
靜電放電電流的典型波形
靜電放電電流的典型波形參數(shù)
臺(tái)式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖立式設(shè)備實(shí)驗(yàn)室配置圖
試驗(yàn)環(huán)境條件
環(huán)境溫度:15 ~ 35 ℃
相對(duì)濕度:30 ~ 60 %
大氣壓力:86~106 kPa
試驗(yàn)的實(shí)施
接觸放電使用尖形放電電極,空氣放電使用圓形放電電極;
優(yōu)先采用接觸放電;
直接放電試驗(yàn),放電電極直接對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行放電試驗(yàn)。試驗(yàn)對(duì)象包括用戶在使用中可能觸及到的任何地方以及在帶電維護(hù)和校正時(shí)可能觸及的地方。如:金屬簧i片、機(jī)殼、機(jī)框、按 鍵、螺絲、指示燈、開關(guān)等;
間接放電試驗(yàn)可對(duì)水平耦合板和垂直耦合板進(jìn)行放電;
試驗(yàn)速率 1 次/s,每個(gè)放電點(diǎn)至少在正負(fù)極性各放電10 次。
試驗(yàn)結(jié)果判定
a. 在試驗(yàn)過程中,設(shè)備的工作完全正常 設(shè)備的工作完全正常。
b. 在試驗(yàn)中,設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低,江蘇電磁兼容,但撤消干擾后,設(shè)備的功能可
以自動(dòng)恢復(fù)正常。
c. 在試驗(yàn)中,設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時(shí)性的功能降低,但干擾撤消后,設(shè)備的功能需
要人工復(fù)位后方能恢復(fù)。
d. 在試驗(yàn)中,受干擾的設(shè)備產(chǎn)生了不可逆轉(zhuǎn)的損傷,包括元器件的損傷 、軟件或數(shù)據(jù)
丟失等。
對(duì)于情形a、b,判為合格。
對(duì)于情形c、d,判為不合格。
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