溫補振蕩器測試方法
如果使用方?jīng)]有特別強調(diào),頻率溫度穩(wěn)定度指標的驗收,一般采用穩(wěn)態(tài)測試。這是因為多數(shù)溫補晶體振蕩器是依靠溫度傳感器調(diào)節(jié)振蕩回路中變?nèi)荻O管的電容量來保證其工作在標稱頻率附近的。為克服溫度敏感元件(包括溫度傳感器和晶體諧振器)固有溫度時間常數(shù)的不同,晶體振蕩器生產(chǎn)廠家普遍采用穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試,并根據(jù)溫度敏感元件達到溫度平衡的測試的溫度補償電壓值來生產(chǎn)的。實踐證明穩(wěn)態(tài)測試足以滿足絕大多數(shù)應用場合。
什么叫溫補振蕩器的滯變效應和微擾效應
滯變效應(完整溫度循環(huán))[3]在一個完整的穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試循環(huán)中觀察到的,溫補晶體振蕩器頻率溫度特性不可重復的一種熱致效應(指標多為≤±0.1ppm~≤±0.6ppm)。滯變效應較為簡單的計算方法是只計算一個完整穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試循環(huán)前后+25℃時輸出頻率的差值。
微擾效應:主要是由于晶體諧振器制造缺陷造成的,溫補有源晶振報價,溫補晶體振蕩器輸出頻率圍繞其光滑頻率溫度特性曲線存在跳點的效應(指標多為≤±0.1ppm~≤±1.0ppm)。微擾效應一般不做100%參數(shù)測試,溫補有源晶振價格,廠家通常采用另外一種有效的方法,即通過篩選微擾效應小的晶體揩振器來做到設計參數(shù)的保證。
溫補振蕩器工作的原理
首先了解晶體的數(shù)學模型,用負阻的方法分析了石英晶體振蕩器的起振原理以及補償方法,溫補有源晶振,設計了數(shù)字電容陣列可調(diào)頻率晶體振蕩電路,實現(xiàn)了頻率簡單可控.帶隙測溫電路采用了LDO供電和cascode結構,實現(xiàn)了輸出溫度電壓具有高抑制比和準確性.模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC采用了12位逐次逼近型電路,溫補有源晶振原廠,結構簡單精度適中.LDO為測溫電路提供了穩(wěn)定的工作電源保證了輸出信號的穩(wěn)定,通過間斷性地工作實現(xiàn)整個系統(tǒng)的低功耗. 隨著CMOS技術的發(fā)展,上述的各種電路都可以集成在一塊芯片里面.本文基于集成電路設計工具Cadence的軟件環(huán)境,和SMIC的0.35um工藝,設計了以上電路,并得到了結果,驗證了本設計的可行性.
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