工業(yè)超聲波c掃描

機(jī)械傳動(dòng)機(jī)構(gòu)：機(jī)械傳動(dòng)機(jī)構(gòu)是由水箱上部?jī)蓚?cè)裝的導(dǎo)軌、導(dǎo)軌上支桿、步進(jìn)電機(jī)組成。兩根導(dǎo)軌分別代表縱軸、橫軸，涂層腐蝕在線(xiàn)監(jiān)測(cè)采購(gòu)，即X 、Y 軸。支桿的交匯處就是探頭所在處。可以通過(guò)手輪來(lái)調(diào)節(jié)探頭的高低。掃描控制器控制兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)來(lái)改變探頭的位置。傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的四角裝有極限控制用的光電傳感器。在掃查機(jī)構(gòu)超出掃查范圍時(shí)自動(dòng)停止掃查動(dòng)作。停止掃查后，必須關(guān)閉掃描控制器，用手工方法使掃查機(jī)構(gòu)脫離極限區(qū)域。

工業(yè)超聲波c掃描應(yīng)用范圍

近年來(lái)，工業(yè)超聲波c掃描顯微鏡（C-SAN）已被成功地應(yīng)用在電子工業(yè)，尤其是封裝技術(shù)研究及實(shí)驗(yàn)室之中。由于超音波具有不用拆除組件外部封裝之非破壞性檢測(cè)能力，故C-SAN可以有效的檢出IC構(gòu)裝中因水氣或熱能所造成的破壞如﹕脫層、氣孔及裂縫…等。 超聲波在行經(jīng)介質(zhì)時(shí)，若遇到不同密度或彈性系數(shù)之物質(zhì)時(shí)，即會(huì)產(chǎn)生反射回波。而此種反射回波強(qiáng)度會(huì)因材料密度不同而有所差異.C-SAN即利用此特性來(lái)檢出材料內(nèi)部的缺陷并依所接收之訊號(hào)變化將之成像。因此，只要被檢測(cè)的IC上表面或內(nèi)部芯片構(gòu)裝材料的接口有脫層、氣孔、裂縫…等缺陷時(shí)，即可由C-SAN影像得知缺陷之相對(duì)位置。

C-SAN服務(wù)　超聲波掃描顯微鏡(C-SAN)主要使用于封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的分析，因?yàn)樗芴峁㊣C封裝因水氣或熱能所造成破壞分析，例如裂縫、空洞和脫層。

C-SAN內(nèi)部造影原理為電能經(jīng)由聚焦轉(zhuǎn)換鏡產(chǎn)生超聲波觸擊在待測(cè)物品上，將聲波在不同接口上反射或穿透訊號(hào)接收后影像處理，涂層腐蝕在線(xiàn)監(jiān)測(cè)報(bào)價(jià)，再以影像及訊號(hào)加以分析。

C-SAN可以在不需破壞封裝的情況下探測(cè)到脫層、空洞和裂縫，且擁有類(lèi)似X-Ray的穿透功能，并可以找出問(wèn)題發(fā)生的位置和提供接口數(shù)據(jù)。

脈沖渦流技術(shù)特點(diǎn)介紹

用于復(fù)雜形狀物體的檢測(cè)：脈沖渦流技術(shù)可以適用于各種形狀的物體，包括管道、板材、棒材等，應(yīng)用范圍廣泛?？蓪?shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程檢測(cè)：脈沖渦流技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)，涂層腐蝕在線(xiàn)監(jiān)測(cè)，對(duì)于長(zhǎng)距離管道等設(shè)備的檢測(cè)非常適用?？梢赃M(jìn)行定量和定性分析：脈沖渦流技術(shù)可以進(jìn)行定量和定性分析，涂層腐蝕在線(xiàn)監(jiān)測(cè)廠(chǎng)家，通過(guò)數(shù)據(jù)處理和分析，可以獲得更加準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果?？傊?，脈沖渦流技術(shù)具有高精度、無(wú)損、快速、適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域的無(wú)損檢測(cè)和維修。

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